定制四氟連續反應裝置化工制

一、產品說明: 1、本裝置主要用于具有腐蝕性反應物或生成物的實驗，適用于石油、化工、制藥等行業。 2、產品性能：整套設備所有部件，均需高純聚四氟材質；裝置具備良好的密封性能；各部位均可定制。 ? 二、可選配置 1、反應器：四氟平底燒瓶/PFA圓底燒瓶，均可做多頸 2、滴液漏斗：四氟恒壓滴液漏斗/PFA具閥門加液漏斗 3、接收瓶/吸收瓶：四氟/PFA 4、四氟攪拌槳 5、PFA溫度計套管 6、冷凝管

2023-06-20 面議/套

PFA樣品瓶儲藏硅材料半導體

一、產品簡介： PFA也稱可溶性聚四氟乙烯、特氟龍（Teflon），它可用于痕量分析、同位素檢測，ICP-MS/OES/AAS分析等實驗。樣品瓶也叫：試劑瓶、儲液瓶、儲樣瓶等。 二、技術參數 品名：PFA樣品瓶 規格（ml）：30/60/100/250/500/1000/2000/3000 材質：PFA 耐受溫度：-200~ 260℃ 三、產品特性 1、外觀半透明； 2、耐溫性：使用溫度-200

2023-06-20 面議/個

耐強酸強堿四氟離子交換柱半

? PFA離子交換柱 產品介紹： 形狀為一支長的圓柱PFA管，在管的下端連有一片砂芯濾片，便于裝填氧化鋁之類的吸附劑用，有的在層析柱下端焊有細PFA管，管的尾端可拉尖，便于安裝或用于液體的流出。具活塞的層析柱是在柱下端與細PFA管之間焊接一活塞， 便于控制盛裝或用于排放液體。 產品原理: 利用吸附劑對不同化合物有不同吸附劑作用和不同化合物在溶劑中的不同溶解度，用適應溶劑使混合物在填有吸附劑的柱內通

2023-06-19 面議/個

四氟微波罐耐高溫配套CEM微

元素分析隱性錯誤，可造成的慘痛質量安全事故和經濟損失，但很少人知道70% 的分析失敗事實上來源于樣品前處理，為了保證元素分析正確性和安全性，一定要防范于未然，選擇好的可靠的微波消解——適配CEM微波消解罐 我廠可加工如：配套美國CEM（MARS5/MARS6-40位/Mars6- xpress 12位/Easy Prep Easy prep）、配套邁爾斯通、配套安東帕、配套德國耶拿、配套上海新儀、

2023-06-16 面議/個

耐腐蝕PFA同位素離子交換柱

一、產品介紹 我們可提供不同容量、管徑及長度的特氟龍同位素離子交換柱。采用高純實驗級別PFA/FEP材質設計,結合多種毛細管和儲存容器的特點來滿足您的需要，尺寸可根據您實驗要求定制。 廣泛應用于生物醫藥、環境監測、食品等領域。與傳統的色譜技術相比，PFA層析柱具有更高的分離能力、更好的重復性和更廣泛的適用性。 二、規格齊全 常用規格有 1.5ml? ?15ml? 30ml （一體成長，管長195m

2023-06-15 面議/個

耐高溫防腐電熱板尺寸可定制

一、產品指南 DBF溫控電熱板，也稱防腐電熱板，表面經優質特氟龍涂層不粘處理，不受強酸強堿的影響，是樣品加熱消解、蒸干、煮沸、趕酸實驗用電熱板。 ? ?多配套我司特氟龍系列如燒杯、坩堝、消解管、溶樣罐、消解罐內杯等使用，效果好。 可以滿足物理、化學、生物、環保、制藥、食品、飲品、教學、科研等不同行業化學實驗室對試劑加熱的需要。多種系列，多種型號供用戶選擇，亦可根據用戶要求訂做，采用特殊工藝制作,克

2023-06-09 面議/臺

CEM微波罐國產平替食品中鈣

一、產品指南 我廠可加工如：配套美國CEM（MARS5/MARS6-40位/Mars6- xpress 12位/Easy Prep Easy prep）、配套邁爾斯通、配套安東帕、配套德國耶拿、配套上海新儀、配套上海屹堯、配套北分瑞利、配套山東海能、配套北京祥鵠等各廠家的微波消解罐及相關架子、轉盤、塞子及墊片等 二、微波罐參數 型號 MARS5、MARS6等 內罐材質 TFM 外罐材質 宇航纖維復

2023-06-08 面議/個

樣品前處理分析用微波消解儀

概述： ZY-XJY-MD微波消解是一種前處理方式,使用微波快速加熱密閉反應容器中的樣品和酸,使樣品迅速被破壞分解,反應后形成澄清的溶液,可滿足后續分析儀器(ICP、AAS、AES等)進樣要求并完成檢測. 稱取0.2克-1.0克的試樣置于消解罐中，加入約2mI的水，加入適量的酸。通常是選用HNO3、HCI、HF、H2O2等，把罐蓋好，放入爐中。當微波通過試樣時，分子隨微波頻率快速變換取向，2450

2023-06-07 面議/臺

PFA容量瓶耐氫氟酸螺口密封

一、產品簡介 ?氟乙烯、可溶性聚四氟乙烯）容量瓶，我司新推出螺紋和插口兩種可供選擇，目前有10ml、25ml、50ml、100ml、250ml、500ml、1000ml的規格可提供，產品質量有保障。 Teflon系列PFA容量瓶是一個透明的長頸瓶，瓶體為梨形，便于搖蕩液體和刷洗。每一個PFA容量瓶上的刻度線都是用千分之一的電子天平稱量、標注。 廣泛用于ICP-MS、ICP-OES等痕量分析以及同位

2023-06-06 面議/個