雙折射測量儀PA-Micro

主要特點(diǎn)：操作簡單，測量速度可以快到3秒。視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。更直觀的一體讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。應(yīng)用領(lǐng)域：通信光纖晶體醫(yī)學(xué)技術(shù)參數(shù)：? ??項次? ? ? ? ? ?項目? ? ? ? ? ??具體參數(shù)1輸出項目? ? ? ? ??相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算

2023-07-14 0

應(yīng)力雙折射儀超大幅面WPA

? ? ?汽車車窗玻璃幅面很大，一般桌面式測量雙折射/殘余應(yīng)力測量儀無法測量，掃描測量由非常慢，無法滿足實(shí)際使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA雙折射測量儀，會根據(jù)客戶樣品定制大型圓偏振光光源系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)大幅面樣品的高速測量。設(shè)備在日本的汽車廠商得到廣泛應(yīng)用。主要特點(diǎn)：? 解決汽車車窗玻璃等大幅面產(chǎn)品的雙折射/殘余應(yīng)力測量。 測量速度快，可滿足玻璃工廠研發(fā)或質(zhì)

2023-07-14 0

PHL應(yīng)力雙折射/相位差測量儀

主要特點(diǎn)： 操作簡單，測量速度可以快到3秒。 視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。 更直觀的一體讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。 維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。 高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。 應(yīng)用領(lǐng)域： 光學(xué)鏡片 智能手機(jī)玻璃基板 A4紙尺寸的樣品 技術(shù)參數(shù)：? ? ? ? ? ? ? 項次 ? ? ? ?

2023-07-14 0

內(nèi)應(yīng)力/雙折射/相位差測量儀

?? ?? 硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布，安裝既有的操作簡單和實(shí)用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用

2023-07-14 0

晶圓缺陷檢測系統(tǒng)

? ? ? ? 可檢測 表面、內(nèi)部、背面的缺陷 ????外延缺陷 ??? 胡蘿卜型缺陷 ????彗星缺陷 ????三角缺陷 ????邊緣缺陷 ? ????襯底缺陷 ????微管缺陷 ????層錯缺陷 ????六方空洞缺陷 ?

2022-03-04 面議/臺

非接觸式三維測量儀

非接觸式三維測量儀 采用激光非接觸式測量，適用于多種材料和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的樣品的三維測量設(shè)備。 ?? ? ? ? ? 應(yīng)用實(shí)例： ?

2022-03-04 面議/臺

白光共聚焦顯微鏡

日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測試，僅需一臺設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)。 ?? 關(guān)鍵詞：激光共聚焦顯微鏡,白光共聚焦顯微鏡,lasertec共聚焦顯微鏡 OPTELICS HYBRID 簡介： 日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組

2022-03-04 面議/臺

微區(qū)取樣儀

Micro Support 微區(qū)取樣儀 ?????? 微區(qū)取樣儀是微小物體分析強(qiáng)有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時會因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來許多難題，而微區(qū)取樣儀可以幫助用戶輕松解決。 ?? 關(guān)鍵詞：微區(qū)取樣儀、Micro Supp

2022-03-04 面議/臺

玻璃內(nèi)應(yīng)力雙折射測量儀PA-3

PA-300-MT ? ??? ?PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，獨(dú)有的雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。 ??

2022-03-03 面議/臺