玻璃光學(xué)常數(shù)測(cè)試儀

一種可以同時(shí)測(cè)量反射率、透射率的光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 產(chǎn)品特征 · 易于安裝· 基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件，很容易操作· 先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，以確保能發(fā)揮出較佳的系統(tǒng)性能· 基于陣列設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng)，以確保快速測(cè)量· 獨(dú)特的光源設(shè)計(jì)，有著較好的光源強(qiáng)度穩(wěn)定性· 較多可測(cè)量5層的薄膜厚度和折射率· 在毫秒的時(shí)間內(nèi)，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù) · 能夠用于實(shí)時(shí)或在線的厚度、折射率測(cè)量· 系統(tǒng)配備大量

2011-11-04 0

供應(yīng)光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

KMAC 簡(jiǎn)介 K-MAC(株)公司附屬韓國(guó)物理性質(zhì)分析研究所,主要開發(fā)生產(chǎn)具有高科技含量的 物理化學(xué)分析儀器和應(yīng)用儀器。K-MAC(株)公司在北京設(shè)有分公司，可為您提供 及時(shí)的售前、售后服務(wù)。方便您的研究、生產(chǎn)。 設(shè)備簡(jiǎn)介? 1.特點(diǎn) l 操作簡(jiǎn)單易懂 l 非接觸式、非破壞式測(cè)量方法 l 可同時(shí)測(cè)量多層膜厚度 l 原地測(cè)量 l 價(jià) 格合理 2.應(yīng)用領(lǐng)域 半導(dǎo)體 Pol

2011-09-18 0

供應(yīng)Low-e玻璃薄膜分析設(shè)備-

? ? 可用于分析當(dāng)今Low-E玻璃中比較流行的單銀、雙銀、三銀玻璃及熱反射產(chǎn)品膜系結(jié)構(gòu)分析， 如NiCr、Cr、Cu、Ag、單晶Si、C、ZnSn、SiAl、ZnAl、TiOX、NbOX、AZO等材料組成的各種膜系機(jī)構(gòu)，可準(zhǔn)確F分析測(cè)試各膜層的厚度和光學(xué)常數(shù)(N、K)。 ? 產(chǎn)品特點(diǎn)： ? 易于安裝 基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件，很容易操作 先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，以確保能發(fā)揮出較佳

2011-03-16 0